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実験ステーション

EH1: 先進オプティクスステーション

XFELの最先端利用を開拓するために、 新しい実験手法や光学系・検出系の開発は非常に重要な課題とされています。 本ステーションは、 汎用の多軸回折計等を利用することにより、 これらのR&Dを先駆けて行い、 SACLA利用の発展に貢献します。 また、 本ステーションで構築された先進光学系を用いてXFELビームの加工を行い、 下流の実験ステーションで利用することが可能です。 例えば、 フェムト秒XFELパルスのパルス操作や、 高分解能分光への応用が行われます。

1.基盤装置・設備

MPCCD(シングルセンサー)

2.模式図



3.平面図



4.共用実験装置

・ 汎用多軸回折計  ※詳細はコンポーネントカタログ
汎用多軸ステージ類の組み合わせによって試料 (気体・溶液・固体) に応じた透過・反射回折計測を行います。 図1のように、 検出器アームにはMPCCD(シングルセンサー)・フォトダイオード等が装着可能で、 これを回転することによって低角から高角側までのX線散乱の計測を行います。汎用セットアップでは、 カメラ長は100mm~400mmです。


図 1汎用多軸回折計の使用例


・XFELオートコリレータ(準備中)  ※詳細はコンポーネントカタログ
XFELパルスを分割し遅延をかけることで、XFELポンプ-XFELプローブ実験のためのダブルパルスを生成します。このビームは下流の実験ハッチで利用可能です。